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橢圓偏振儀的用途

橢圓偏振儀的主要用途是測量光學(xué)常數(shù)和基于它們的薄膜厚度。由于它測量反射偏振光，因此無法測量非常厚的物體（約 1 毫米或更?。?。

然而，對于薄膜來說，存在分辨率為0.01納米尺度的設(shè)備，因此它們經(jīng)常被用來高精度地測量薄膜的厚度。它可以測量各種鍍膜、鏡片等光學(xué)薄膜的光學(xué)性能，以及構(gòu)成薄膜的物質(zhì)的結(jié)晶率、成分、光學(xué)各向異性等。

根據(jù)設(shè)備的不同，還可以測量液體的光學(xué)特性。